A cura di M. Parvis 1 e S. Rapuano 2
Notizie dall’IEEE Instrumentation and Measurement Society Congressi e tesi di dottorato di ricerca IEEE
ABSTRACT This column presents the latest news about the activities of the IEEE Instrumentation and Measurement Society, the community of measurement within the Institute of Electrical and Electronics Engineers. In any issue information about conferences, funding opportunities, education activities and standard development activities of the Society are presented. RIASSUNTO Questa rubrica presenta gli ultimi aggiornamenti sulle attività dell’IEEE Instrumentation and Measurement Society, la comunità delle misure nell’ambito dell’Institute of Electrical and Electronics Engineers. Di volta in volta vengono presentate informazioni sui congressi, sulle opportunità di finanziamento, sulle attività di formazione e sugli standards IEEE gestiti dalla Society.
LA NUOVA RIVISTA OPEN ACCESS DELLÊINSTRUMENTATION AND MEASUREMENT SOCIETY
Con l’obiettivo di estendere l’offerta di servizi alla sua comunità scientifica di riferimento, l’IEEE IMS ha appena lanciato una nuova rivista: l’IEEE OPEN JOURNAL OF INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT (OJIM). OJIM pubblicherà articoli sulla scienza, la tecnologia e le applicazioni delle misure e della strumentazione. In particolare, verranno pubblicati articoli su metodi, strumenti, sistemi e applicazioni per la misurazione, il rilevamento, il tracciamento, il monitoraggio, la caratterizzazione, l’identificazione, il rilevamento, la stima, il riconoscimento o la diagnosi di un fenomeno fisico, la metrologia e teoria della misura e la taratura della strumentazione. Come si evince dal titolo, OJIM è una rivista gold open access, il che significa che tutti i contenuti sono disponibili gratuitamente. Tutti gli articoli verranno pubblicati con licenze Creative Commons CCBY o CCBY-NC-ND e,
contrariamente alle tradizionali riviste IEEE, l’autore ne conserva i diritti. Per la licenza CCBY gli utenti sono autorizzati a leggere, scaricare, copiare, distribuire, stampare, cercare o collegare i testi integrali degli articoli pubblicati o utilizzarli per qualsiasi altro scopo legittimo, a condizione che venga correttamente citata la fonte. Gli articoli pubblicati sotto CCBY-NC-ND sono disponibili alle stesse condizioni di CCBY, ma i contenuti non possono essere riutilizzati a fini commerciali né è consentito modificare in alcun modo l’opera. Queste modalità di pubblicazione rendono OJIM pienamente compatibile con i requisiti degli enti pubblici, come l’Unione Europea, appartenenti alla cosiddetta Coalizione S, che impongono la pubblicazione dei risultati dei progetti finanziati su articoli coperti da licenze del tipo CCBY. OJIM non si pone in concorrenza alle IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, principale collocazione editoriale dell’IMS per i risultati di ricerca nel campo delle misure e della strumentazione elettronica, ma
offre agli autori la possibilità di continuare a pubblicare su riviste IMS in presenza di requisiti obbligatori sul tipo di licenza open access. La rivista verrà pubblicata in modalità esclusivamente elettronica, con l’obiettivo di raggiungere un intervallo medio di 10 settimane fra la sottomissione e la pubblicazione. Il sito per le sottomissioni, aperto dal 1° settembre 2021, è raggiungibile all’indirizzo www.editorialmanager. com/ojim/default1.aspx. Il primo numero della rivista verrà pubblicato quest’anno. Per ulteriori informazioni, si rimanda al sito della rivista. PREMIO DELLA REGIONE 8 AL CAPITOLO ITALIANO DELLÊIMS
La Regione 8 dell’IEEE, che include Europa, Africa, Medio Oriente e Asia Settentrionale, riconosce ogni anno i Capitoli che si sono distinti per eccezionali servizi resi ai membri con il premio “Capitolo dell’anno”. Per il 2021 il premio “Capitolo dell’anno” per la categoria “Most Virtually Active and Adaptive Region 8 Chapter/Student Branch Chapter of the Hard COVID-19 Times” è andato al Capitolo italiano dell’IMS, presieduto dal Prof. Angrisani. Congratulazioni e auguri di buon lavoro.
Marco Parvis, IEEE IMS Vice President Technical and Standards Activities, Dip. di Elettronica e Telecomunicazioni, Politecnico di Torino marco.parvis@polito.it 2 Sergio Rapuano, IEEE IMS Vice President Education, Dip. Ingegneria, Università del Sannio rapuano@unisannio.it 1
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