phổ hồng ngoại biến đổi Fourier (FTIR

DẠY KÈM QUY NHƠN OFFICIAL PHƯƠNG PHÁP NGHIÊN CỨU Hình 2.4. Nhiễu xạ tia X trên bề mặt tinh thể [39] Thực nghiệm: Các mẫu xúc tác được đo thành phần pha trên thiết bị đo XRD D2PHARSER (hãng Brucker) tại Phòng Thí nghiệm Công nghệ nano – Trung tâm Nghiên cứu Triển khai – Khu Công nghiệp cao với các thông số bước quét 2θ = 0,03o, bức xạ CuKα. Mẫu được nghiền thành dạng bột mịn, tạo bề mặt phẳng có bề dày khoảng 100 Å, sau đó tiến hành đo. Phần mềm phân tích nhiễu xạ ASTM được sử dụng để xác định các pha có trong mẫu thử, đo ở nhiệt độ phòng. Các mẫu xúc tác được đo XRD để xác định pha tinh thể cũng như sự ảnh hưởng của nhiệt độ nung, nồng độ và các yếu tố khác đến trạng thái pha của xúc tác. 2.2.2. Phân tích thành phần nhóm chức của vật liệu bằng phương pháp quang phổ hồng ngoại biến đổi Fourier (FTIR) Quang phổ hồng ngoại biến đổi Fourier (FT-IR) là một kỹ thuật được sử dụng để thu được phổ hồng ngoại hấp thụ hoặc phát xạ của chất rắn, lỏng hoặc khí. Máy quang phổ FT-IR đồng thời thu thập dữ liệu có độ phân giải phổ cao trên một dải phổ rộng. Điều này cho thấy một lợi thế đáng kể so với máy quang phổ tán sắc, đo cường độ trên một phạm vi bước sóng hẹp tại một thời điểm. 32