Конфокальний мікроскоп використовує спеціальний метод оптичного картування, щоб збільшити оптичну роздільну здатність та контрастність реєструючого приладу. Цей метод застосовує точкове освітлення та діафрагму з мініатюрним отвором, встановлену перед детектором, щоб прибрати розсіяне позафокусне світло.[1] Конфокальний мікроскоп дозволяє реконструювати на основі отриманих зображень тривимірну структуру досліджуваного зразка. Цей метод здобув широку популярність в наукових та індустріальних колах й застосовується для перевірки напівпровідників, матеріалознавстві, біології та спінтроніці
