PIC® Microcontroller CCP and ECCP Tips ‘n Tricks
TIP #12 Repetitive Phase Shifted Sampling El muestreo "Repetitive Phase Shifted" es una técnica utilizada para incrementar artificialmente la tasa de muestreo del conversor A/D cuando se muestrean señales que son periódicas y constantes de período en período. Esta técnica funciona capturando regularmente muestras espaciadas de la forma de onda desde el principio hasta el final de su período. El muestreo de la próxima forma de onda se lleva a cabo de la misma manera sólo que la secuencia de muestro se retrasa un porcentaje del período de muestreo. Las formas de onda subsecuentes tambien son muestreadas, con cada secuencia retrasada levemente una de otra, hasta que el retraso sea igual a un período. Intercalando las distintas muestras producen un set de muestras a una tasa mayor. La Figura 12-1 muestra un ejemplo de una forma de onda con alta frecuencia.
Figure 12-1: High Frequency Periodic Waveform IA
Figure 12-2: Transposed Waveform Key First Pass Second Pass Third Pass Fourth Pass
Volts IV
Time
El módulo CCP se configura en el modo "Compare Special Event Trigger" para cumplir esta tarea. El cambio de fase se implemente eligiendo valores de CCPRxL y CCPRxH que no son sincrónicos con el período de muestro. Por ejemplo, si el período de una señal es 100 s entonces el muestreo de una vez cada 22 s nos da el siguiente set de muestreos a lo largo de 11 períodos (todos los valores en s) 1st 2nd 3rd 4th 5th 6th 7th 8th 9th 10th 11th
Como se indica, la linea punteada muestra cuando las lecturas del A/D son llevadas a cabo durante el primer período de la señal. La linea con puntos mas ectensos muestra las lecturas del A/D durante el segundo período, etc. La Figura 12-2 muestra estas mediciones pasadas a un sólo período.
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Cuando estos valores se ordenan secuencialmente, revelan un intervalo de muestreo virtual (Iv) de 2 s desde 0 s hasta 100 s, a pesar que el muestreo actual sea de 22 s.
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