Platin Nanospitzen auf Silizium
Wer wir sind Das Zentrum für Elektronenmikroskopie Graz (ZFE) bietet Ihnen ein breites F & E Dienstleistungsangebot auf dem Gebiet der mikroskopischen Materialcharakterisierung, technische Beratung und Fachausbildungen. Die Anwendungsschwerpunkte liegen bei anorganischen und organischen Materialien, elektronischen Bauelementen, pharmazeutischen und biologischen Systemen sowie Umweltanalytik. Wir unterstützen Sie bei Ihrer Produktentwicklung, der Prozess- und Fertigungskontrolle sowie bei der raschen Fehlerund Schadensanalyse. Unsere 40 hochqualifizierten MitarbeiterInnen sind hervorragend geschult Aufgaben kompetent zu erfassen und Problemlösungen kosteneffizient, schnell und zuverlässig umzusetzen. Das Zentrum für Elektronenmikroskopie (ZFE) ist ein gemeinnütziges, außeruniversitäres Forschungsinstitut, dessen Tätigkeit nach EN ISO 9001:2008 zertifiziert ist. Das ZFE ist Mitglied der Austrian Cooperative Research (ACR), der Vereinigung der Kooperativen Forschungsinstitute der österreichischen Wirtschaft.
Kontakt Zentrum für Elektronenmikroskopie Graz (ZFE) Steyrergasse 17 A-8010 Graz, Österreich Tel. +43 (0)316 873 8320 Fax +43 (0)316 811 596 Email: sekretariat@felmi-zfe.at Web: www.felmi-zfe.at
Partner Technische Universität Graz Austrian Cooperative Research (ACR)
Zentrum für Elektronenmikroskopie Graz in Kooperation mit dem
Institut für Elektronenmikroskopie und Feinstrukturforschung der Technischen Universität Graz
01 Wir lösen Ihre Materialprobleme Ihre Forschungsabteilung mit modernsten Charakterisierungsmethoden Lichtmikroskopie Infrarot- und Raman-Mikroskopie Rasterelektronenmikroskopie (SEM und ESEM) Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) Mikro- und Nanoanalytische Methoden Dreidimensionale Elektronenmikroskopie Kryo-Elektronenmikroskopie Focused Ion Beam Mikroskopie (FIB) Rasterkraftmikroskopie (AFM) Röntgendiffraktometrie (XRD) Chemisch-physikalisches Labor Metallographisches Labor
Know-how Transfer: Praxisnahe Kurse für mikroskopische Materialanalytik
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Biomaterialien und Pharmazeutische Produkte
Mikro- und Nanostruktur, chemische Zusammensetzung und 3D-Strukturinformation von organischen Materialien, Verbundwerkstoffen, pharmazeutischen Produkten und biologischen Materialien
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03 Mikroanalyse und Materialoberflächen
Oberflächencharakterisierung von Materialien mittels hoch aufgelöster Rasterelektronenmikroskopie (SEM) Mikroskopische Elementanalytik von beliebigen Materialien mittels Röntgenspektrometrie im SEM (EDXS/WDXS) Kristallographische Phasen- und Texturanalysen von Werkstoffen (Elektronen- und Röntgenbeugung) Hochaufgelöste 3D-Topographie und Rauigkeit nahezu beliebiger Materialoberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM), SEM und lichtoptischer Methoden
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Präzise Fehler- und Schadensanalysen
Schwerpunkte sind Werkstoffe, Strukturbauteile, Verbundmaterialien und Kunststoffe Querschnittsanalysen von Materialbeschichtungen mittels Focused Ion Beam (FIB) Mikroskopie 3D-Mikroskopie von Materialdefekten mittels Elektronentomographie Know-how Vorsprung durch langjährigen Erfahrungsaufbau und einzigartige Bruchdatenbank
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Halbleiter- und Nanostrukturen
Untersuchung des Aufbaus, der Struktur und von inneren Grenzflächen in anorganischen und organischen Halbleiterbauelementen Einzigartige Expertise auf dem Gebiet der hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskopie und Spektroskopie (EELS, EDXS) mit atomarer Auflösung Mikroskopische Modifizierung von elektronischen Schaltkreisen (Device Modification) mittels Focused Ion Beam Mikroskopie Nanoskopische Defektanalyse mittels Elektronentomographie
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Polymere und Nanokomposite
„Chemical Imaging“ und Phasenanalysen von organischen Materialien durch wegweisende Kombination von InfrarotMikroskopie und Raman-Mikroskopie Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) von Kunststoffen, Biomaterialien und biologisch-medizinischen Proben Grenzflächenanalytik in Kunststoff- und Folienverbunden