Sưu tầm bởi GV. Nguyễn Thanh Tú # Google.com/+DạyKèmQuyNhơn Chương 3: Nhiễu xạ tia X - X-Ray Diffraction (XRD)
25
Q uy
N
hơ
n
Hình 3.21 Sơ đồ phân tích nhiễu xạ tia X đơn tinh thể bằng phương pháp Laue
co
m /+
D
ạy
Kè
m
Hình 3.22 Sơ đồ phân tích nhiễu xạ tia X đơn tinh thể bằng phương pháp đơn tinh thể quay
e.
Hình 3.23 Thiết bị phân tích nhiễu xạ tia X đơn tinh thể bằng phương pháp Weissenberg và Buerger
G
oo
gl
3. Phương pháp đơn tinh thể quay: Sử dụng một chùm tia X đa sắc chiếu vào một đơn tinh thể được quay quanh một trục đối xứng của nó. Chùm tia tới đồng trục với trục quay. Phim trụ hay phẳng được đặt vuông góc với chùm tia tới. Từ vị trí của các vết nhiễu xạ, người ta suy ra kích thước của ô mạng cơ sở của tinh thể cũng như chỉ số Miller của các vết nhiễu xạ. 4. Phương pháp Weissenberg: Sử dụng một chùm tia X đa sắc chiếu vào một đơn tinh thể được quay quanh một trục đối xứng của nó. Chùm tia tới nằm ngang với trục quay tạo thành một góc . Phim trụ được đặt đồng trục với trục quay và được tịnh tiến trong khi tinh thể quay tạo thành góc quay . Từ vị trí của các vết nhiễu xạ, người ta suy ra kích thước của ô mạng cơ sở của tinh thể cũng như chỉ số Miller của các vết nhiễu xạ. 5. Ngoài ra, còn có các phương pháp khác như phương pháp Buerger, phương pháp de JongBouman,… 6. Hiện nay, người ta thay thế phim bằng ống đếm được lập trình để đo tại các vị trí xác định của vết nhiễu xạ nhằm chính xác và đơn giản hóa quá trình đo và giải bài toán cấu trúc. 7. Như vậy, để thu được các dữ liệu cần thiết một cách tốt nhất, người ta có thể sử dụng tia đơn-đa sắc, mẫu quay-đứng yên, phim trụ-phẳng, tín hiệu truyền qua-phản xạ ngược,… b.
Phương pháp phân tích định tính các pha tinh thể
1. Mỗi pha tinh thể có một bộ các mũi nhiễu xạ xác định với các giá trị d hkl, I và (hkl), tạo thành một giản đồ nhiễu xạ tia X hoàn toàn đặc trưng cho pha tinh thể đó.