Microscopio de fuerza atómica, atomic force microscopy (AFM)

Es un tipo de microscopio que utiliza una sonda extremadamente fina para explorar la topografía de una muestra a nivel atómico A diferencia de los microscopios ópticos convencionales, el AFM no utiliza luz para generar imágenes su funcionamiento se basa en las interacciones entre una punta extremadamente fina y la muestra.

La muestra se coloca en un sustrato o portaobjetos adecuado para su manipulación con materiales compatibles con el AFM se requiere un proceso de fijación y deshidratación para preservar la muestra y evitar cambios durante la medición.

El AFM es adecuado para estudiar una amplia variedad de muestras, incluyendo superficies sólidas, polímeros, biomoléculas y nanopartículas El AFM se le han encontrado utilidad en diversas áreas como la investigación de materiales o la biología