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レーザーダイオード 信頼性テストシステム OPTOELECTRONIC SOURCE MEASURMENT SYSTEM

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バーンイン、信頼性試験、製品寿命試験 クロマ58601は、レーザーダイオードを含む、LED、OLED、フォトダ イオードおよび他の同様な高密度コンポーネントのオプトエレクトロニク ス部品の通電テスト、信頼性試験および製品寿命試験のために温度調節お よび交換可能なインターフェースを備えた高精度のマルチSMU(ソース測 定ユニット)モジュールです。 それぞれのモジュールには、デバイスドライバーやデバイスのバイアスに 使用される、最大80個まで対応可能なそれぞれ独立したSMUがありま す。

電流電源 CURRENT SOURCES 5つのパワーレンジは、個別のSMUがそれぞれ5Aの容量を持ち、それぞ れを並列接続する事で、20~40Aの容量を確保する事が出来ます。それ ぞれの電圧測定は並列接続された大電流デバイスにも利用可能です。より 高いパワーデバイスをサポートするために、転換インターフェース基板を 交換して、さらに多くの電流電源を並列接続することも可能です。

卓越した柔軟性 ULTIMATE FLEXIBILITY 当社は半導体試験装置で実績のある変換キットを、オプトエレクトロ ニクスにも適用しました。変換キット(転換インターフェース&デバイ ス治具)によって、クロマ58601は短時間で他のデバイス用に装置を 切り替えることができます。: ■ 高いチャンネル密度(省スペース) ■ 高出力電流 (チャネル間並列接続) ■ オプティカルパワーモニタリング (Si or InGaAs stabilized detectors) ■ フォトダイオード計測モニター ■ 暗電流計測 ■ バイアス印加 ■ 個別電圧測定 ■ 故障デバイスのバイパス ■ マルチタイプデバイス対応

作業効率の向上 EFFICIENT PROCESSING ■より高温でエージング時間を短縮し、少ないチャンネル数で迅速な 結果を提供し、設備コストを低減させます。 ■高密度設計により、さらに省スペースを実現します。 ■バッチ処理はデバイス治具を用いて行なわれます。デバイス治具はエ ージングでも特性試験でも使用可能です。専用制御ソフトウェアは試 験期間中のすべてのデータをトラッキングします。 ■いくつかの基本システムは多くのデバイスタイプに使用可能で す。変換キットは試作品や新製品、あるいは量産における変化に 迅速に対応でき、より高いコスト効率を提供します。 ■高価なパッケージに先だって、小型サブアセンブリに適合する、 エージング用ファインピッチプロービング。 ■ホットスワップ型の電源の採用により、MTBF/MTTRに関わる 故障モードを低減します。

主な特徴  バーンインテスト、信頼性試験、 製品寿試験

 最大800チャンネル  デバイス毎に最大40Aまで拡張 可能  最高温度150℃  デバイス治具を用いてバッチ処理 可能  変換キットを用意 - 変換キット

をカスタマイズする事で、様々 な製品に対応可能


SPECIFICATIONS Feature

Definition

Uncertainty Accuracy ± (% value + offset)

Random Uncertainty (Stability)

0.1% + 100 uA

100 uA

0.1% + 1 mV

1 mV

0.1% + 1 uA

400 nA

0.1% + 100 nA

40 nA

0.1% + 10 nA

4 nA

0.1% + 200 uA

200 uA

0.1% + 1 mV

1 mV

0.1% + 8 mV

8 mV

0.1% + 8 mV

8 mV

Component Types

Laser Diodes, LED, SLED, OLED, MPD, Photodetectors Package Types CoC, TO-Can, C-Mount, Custom Wavelength Monitoring 390 nm - 1700 nm Devices Per Module 1 to 80 each* Carriers Per Module 2 each (typical) Operation Microprocessor Controlled Data Sample Time 10 sec - 48 hrs Module Internal Nonvolital Memory 500 KB Communication Ethernet - TCP/IP Change Kit Device Adaptability Virtually Unlimited User Site Calibration With Calibration Board & DMM Internal Water Leak Detectors Yes Device Temperature 40° C to 150° C** 500mA Current S/M Range 500.0 mA 500mA S/M Resolution 18 uA -052 (500 mA) 500mA Voltage S/M Range ± 5.000 V 500mA Voltage S/M Resolution 175 uV Current 2 Range 2 mA -M52 (500 mA +) Current 2 Resolution 70 nA Current 3 Range 200 uA (-052 plus optional ranges for Current 3 Resolution 7 nA photodetector measurements) Current 4 Range 20 uA Current 4 Resolution 700 pA Current S/M Range 1.000 A S/M Resolution 36 uA -013 (1 A) Voltage S/M Range ± 5.000 V Voltage S/M Resolution 175 uV Current S/M Range 5.000 A S/M Resolution 180 uA -053 (5 A) Voltage S/M Range ± 5.000 V Voltage S/M Resolution 175 uV Current S/M Range 20.00 A S/M Resolution 720 uA -024(20A,preliminary) Voltage S/M Range ± 40.00 V Voltage S/M Resolution*** 1.400 mV Current S/M Range 40.00 A S/M Resolution 1.44 mA -044(40A,preliminary) Voltage S/M Range ± 40.00 V Voltage S/M Resolution*** 1.400 mV Modules Per System 1 to 10 Modules Systems Per Server 1 to 4 Systems System System Thermal Deviation ± 5° C System Internal Power Chroma 62000B High Rel, Features Redundant, Hot Swappable Power Supply Water Leak Shut Down System Level (optional) Power Requirements 208 3-Phase VAC or 187 to 250 VAC Water Temperature 18° C to 20° C System Water Flow (per Module) 6 Liters/Min Requirements Ambient Temperature 23° C ± 5° C Ambient Relative Humidity < 60 %RH Rack Size (HxWxD) ~84" x 19" x 36" Devices

仕様は予告なく変更されることがあります。最新の仕様は弊社Webサイトでご確認ください。 * デバイス数は、デバイスタイプや測定項目、フォームファクターにより変動します。 ** デバイス温度範囲は、デバイスタイプと電力に依存します。 *** 本機は最大16個の直列DUTのために設計されています。それぞれのデバイスの電圧測定精度は175uVです。いくつか のパワーレベルで直列配置のデバイスバイパスが利用可能です。

Developed and Manufactured by :

CHROMA ATE INC. U.S.A. 7 Chrysler Irvine, CA 92618 Tel: +1-949-421-0355 Fax: +1-949-421-0353 Toll Free: +1-800-478-2026

HEADQUARTERS No. 66, Hwaya Rd. 1, Hwaya Technology Park, Kueishan 33383, Taoyuan, Taiwan Tel: +886-3-327-9999 Fax: +886-3-327-8898 http://www.chromaate.com E-mail: chroma@chroma.com.tw

HSINCHU 6F, No. 5, Technology Rd., Hsinchu Science Park, Hsinchu 30078, Taiwan Tel: +886-3-563-5788 Fax: +886-3-563-5758

JAPAN Tel: +81-2-7661-0548 EUROPE Morsestraat 32, NL-6716 AH Ede, The Netherlands Tel: +31-318-648282

CHINA 3F Building 40, No. 333, Qin Jiang Rd., Shanghai, China PC: 200233 Tel: +86-21-6495-9900 Fax: +86-21-6495-3964


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