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XCELLENCE IN TEST & MEASUREMENT

Botao Lee Senior Staff Engineer Qualcomm Technologies, Inc. blee@qti.qualcomm.com Baodong Liu Staff Engineer Qualcomm Technologies, Inc. baodongl@qti.qualcomm.com Wah Hsu Senior Staff Engineer Qualcomm Technologies, Inc. wahh@qti.qualcomm.com Bill Lu Staff Engineer Qualcomm Technologies, Inc. xiaolu@qti.qualcomm.com

エレクトロニクス業界では、PRAM、MRAM、RRAM な どの新しいメモリ テクノロジの開発に精力的に投資を行っ ています。新しいメモリ テクノロジを使用したテスト チップ の性能は急速に向上していますが、従来のメモリと競合、も しくは従来のメモリを置き換えて本格的に普及するまでに は、まだ課題が残ります。 一般的に、新しいメモリ テクノロジのテスト チップは、入 手可能になった時点で、縮退故障、遷移故障、アドレス デ コード故障といったメーカーに関する問題について、基本的 なテストがすでに実施されています。しかし、チップが確実 にアクセス可能な最大速度や、チップのアクセス速度がコン ピューティング システム全体のパフォーマンスに与える影 響など、性能関連のテストという形で、別種のテストも行う 必要があります。 計画された性能テストを適切に実施するには、チップにア クセスするためにコンフィギュレーション可能なデジタル波 形を生成できるテスト環境が必要です。また、チップのアク セス速度がシステムに与える影響を測るために、テスト環境 においてコンピューティング環境全体を構築できる必要が あります。このようなニーズを満たすテスト環境は、さまざ まな方法を用いて作成もしくは購入することができます。し かし、当社 のチームでは、ザイリンクスの Zynq®- 7000 All Programmable SoC ZC706 評価キットを使用して、 独自の環境を作成することにしました。

メモリの入出力 DRAM、SRAM、フラッシュなどの従来のメモリ テクノ ロジは、電荷を使用して 1 と 0 を各メモリ セルに格納しま す。DRAM は、PC やモバイル コンピューティング デバ イスにおいて、プログラムを実行したり、一時的なデータを 保存したりするのに広く使われています。SRAM は、マイ クロプロセッサのキャッシュ メモリやレジスタ ファイルとし てよく使われています。また、消費電力が特に重視される エンベデッド システムでの使用にもよく見られます。一方、 フラッシュ メモリは、DRAM や SRAM とは異なり、シス テムの電源を切断した後もデータを保持する永続的なメモ リです。フラッシュ メモリの実行速度は DRAM や SRAM よりも遅く、プログラミング サイクルが極めて多い場合、損 耗することがあります。 従来のメモリ テクノロジが電荷をベースとしているの に対し、新しいメモリ テクノロジは、記憶素子のその他の

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ザイリンクス Xcell Journal 日本語版 93 号  

Xcell Journal 93 号のカバーストーリーでは、急速に進化し、これまで以上に複雑な医療機器市場において、ますます重要になるザイリンクスデバイスについて考察します。そのほか、魅力的な方法論と実用的な ハウツー記事を紹介しています。

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