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泽泉开放实验室

泽 泉 科 技 有 限 公 司

Zealquest Laboratory

Zealquest Scientific Technology Co., Ltd.

LemnaTec SAW Bonit 软件

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单子叶植物叶片损伤评定 无论是温室还是田间研究,最大程度的排除主观因素而获得重复性较好的文件数据,是每一个科研 工作者的梦想。在实验室可重复的光照条件下,我们通常能够做到对一个随机样本叶片损伤面积的客观 评价。与 LemnaTec Scanalyzer 图像采集系统相连接的 LemnaTec SAW Bonit 软件能够在数目、大小和面 积(包括颜色分类)上对叶片损伤精确定量。

上图显示了大麦叶片的网斑病病斑,叶片的损伤等级一方面可以通过 LemnaTec SAW Bonit 系统的 不同颜色分类进行表示,另一方面也可以对图像进行更精细的处理过程,达到更高水平的区分和鉴定。 大量结果表明,叶片损伤的不同等级分类需要人眼识别才能完成,但要具体量化损伤部位所占的百分比, 则不可避免的存在较大的系统误差。图像处理技术的应用完美的解决了这个问题,并且可以做更深层次 的研究,为客户提供可靠的实验数据。

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